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Versal ACAP 电源过压损坏是否会传导至 IO

电源与散热已闭环原帖 4 个回答 · 240 次浏览|器件:Versal ACAP

一句话结论:过压极具破坏性,损坏是否波及 IO 只能按概率评估,无法确认

现象

VCCINT/VCCO 被施加约 12 倍额定电压后,担心损坏经 IO bank 传导至外接器件

根因

帖中未明确

可尝试的处理步骤

本文基于 AMD 客户社区(原 Xilinx 论坛)真实问答整理为中文要点,非原文转载;技术细节以原帖与 AMD 官方文档为准。
原帖:https://adaptivesupport.amd.com/s/question/0D54U0000958jI8SAI/inquiry-regarding-power-supply-failures-in-versa

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相关标签:Versal · VCCINT · VCCO · EOS

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