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JTAG下FLASH回读校验随机失败

JTAG 与下载器社区未闭环原帖 9 个回答 · 868 次浏览|器件：Vivado 2018.2 / DLC10 / Artix-7 xc7a200 / Zynq xc7z030 / Spartan-7 xc7s25 / MT25QU512

一句话结论：多版本、多频率、单芯片JTAG链下问题依旧，根因未定，待厂商内部讨论

现象

编程擦除正常且FPGA可启动，但verify/blank check随机在不同地址失败，回读出现多余字节

根因

帖中未明确

可尝试的处理步骤

确认所用工具版本
确认编程FLASH时选择entire configuration memory device或仅image size
提供verify和blank check报错的Vivado日志
物理旁路JTAG链上其他FPGA，仅保留单个Artix-7测试
仅保留Spartan-7在JTAG链中测试
用AC701板测试
降低JTAG频率至15MHz以下（如3或6MHz，已试1.5MHz和750kHz）
换用Vivado 2017.4、2018.2、2018.3测试
按完整擦除→回读→blank check→回读→verify→回读的顺序测试
统计出现该行为的板卡数量
分享回读文件供分析

本文基于 AMD 客户社区（原 Xilinx 论坛）真实问答整理为中文要点，非原文转载；技术细节以原帖与 AMD 官方文档为准。
原帖：https://adaptivesupport.amd.com/s/question/0D52E00006hpm2CSAQ/failing-flash-readback-through-jtag

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相关标签：JTAG · FLASH · Vivado · Artix-7

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